X线头影测量的主要应用有

• A、可研究颅面生长发育
• B、可确定错畸形的矫治设计
• C、可对牙、颅面畸形作诊断分析
• D、可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
• E、可作为外科正畸诊断和矫治设计依据