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疾病控制(副高)

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对研究所需指标或数据进行测定或测量时产生的偏倚为

  • A、诊断怀疑偏倚
  • B、入院率偏倚
  • C、现患-新发病例偏倚
  • D、易感性偏倚
  • E、测量偏倚
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