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口腔内科学(副高)［022］

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不属于X线头影测量主要用途的是

  • A、研究颅面生长发育
  • B、牙颌面畸形诊断分析
  • C、了解患者的骨龄
  • D、错治疗方案设计
  • E、评估治疗结果
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