多做题,通过考试没问题!
口腔修复学(副高)[024]
题库首页
>
副主任医师副高
>
口腔修复学(副高)[024]
牙列缺损后形成干扰的最主要原因是
A、缺牙间隙变小
B、邻牙的倾斜
C、对颌牙的松动
D、间隙增宽
E、牙列缩短
查看答案
微信扫一扫手机做题
最新试题
·
某患者,
固定义齿修复中,下列哪种情况适合选用冠内
·
有关烤瓷金属基底桥蜡型,说法不正确的是
·
下列固定修复体龈边缘形态中密合度最差的是
·
关于胎支托的描述,错误的是A、厚度为1.
·
Kennedy分类法中有亚类的是 (
·
哥特弓描记是为了 ( )A、帮助
·
哪项不是可摘局部义齿基托的主要功能A、连
·
患者,女,54岁,下颌左侧第二前磨牙、第
·
全口义齿排列完成,试代时,可不考虑下列哪
热门试题
·
下列关于义齿支架电解抛光正确的是(
·
以下不是牙髓的功能的是A、形成牙本质B、
·
下列乳牙髓腔特点,说法错误的是A、牙髓室
·
下列与口腔黏膜病关系最密切的口腔微生物是
·
下列疾病不引起牙本质过敏症的是A、磨耗B
·
咬合病的临床表现不包括( )A、早接
·
患者一下磨牙根管治疗、银汞合金充填后,要
·
关于PFM冠金瓷结合机制不正确的是A、化
·
增加金属底冠与树脂的结合,下列哪种方法最
·
邻面去釉不适用于A、轻中度牙列拥挤B、釉