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口腔正畸学(副高)[025]
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口腔正畸学(副高)[025]
关于牙周探针和牙周探诊的描述正确的有
A、牙周探针带刻度,每刻度为1mm或2~3mm
B、轻柔的探诊压力也会使探针穿透部分结合上皮,使组织学的真正深度略大于探诊深度
C、在测量牙周袋时,牙周探针尖始终紧贴牙周袋壁
D、探测牙周袋时,牙周探针应与牙长轴平行,探测邻面时,不允许探针向邻面中央倾斜
E、在探诊时,支点要稳,用力不可过大
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