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口腔正畸学(副高)[025]
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副主任医师副高
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口腔正畸学(副高)[025]
研究颅面生长发育常用的研究方法是
A、X线头影测量
B、牙片
C、咬合片
D、胸片
E、口腔颌面部CT常规扫描检查
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托槽槽沟与牙齿阻抗中心的距离是8mm,在
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1、根据病史及检查,诊断可能是2、患牙治
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