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口腔正畸学(副高)［025］

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X线头影测量可做如下分析，除了

  • A、颅面部生长发育
  • B、双侧髁突对称性
  • C、牙、、面畸形的机制分析
  • D、外科正畸的诊断和分析
  • E、矫治前后牙、、颅面结构变化
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