多做题，通过考试没问题！

口腔正畸学(副高)［025］

题库首页>副主任医师副高>口腔正畸学(副高)［025］

不属于X线头影测量主要用途的是

  • A、研究颅面生长发育
  • B、牙颌面畸形诊断分析
  • C、了解患者的骨龄
  • D、错治疗方案设计
  • E、评估治疗结果
查看答案

微信扫一扫手机做题

最新试题
热门试题