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口腔正畸学(副高)［025］
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口腔正畸学(副高)［025］
X线头影测量可做如下分析，除了
A、颅面部生长发育
B、双侧髁突对称性
C、牙、
、面畸形的机制分析
D、外科正畸的诊断和分析
E、矫治前后牙、
、颅面结构变化
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、面畸形的机制分析、颅面结构变化
、面畸形的机制分析、颅面结构变化