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口腔颌面外科学(副高)[023]
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口腔颌面外科学(副高)[023]
通过头颅后前位X线片测量分析,可以明确( )
A、颅面前后关系
B、颅面垂直关系
C、颅面横行关系
D、面宽
E、中线切牙关系
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